1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測量面、工作面的平面度。亦用于檢定高精度的平面零件，例如：平面光學零件，高級平臺，平板，導軌，機械密封件等。平面平晶特別適用于計量單位，檢測實驗室作為標準平面基準。

2、符合新標準：JJG28-2019

3、產品視頻展示地址如下：

http://www.wwitsc.com/videoshow-437.html

二、平面光帶檢測儀型號：

1、標準規格尺寸：                                                                          單位：mm

2、非標定制規格尺寸：                                                                         單位：mm

2、精度：按JJG28-2019新國標：

1） 平晶精度：1級 

a.直徑 30mm~60mm 0.03μm

b.直徑 80mm~150mm 0.05μm

c.直徑 200mm~300mm 0.08~0.15μm

d.直徑 300mm~600mm 0.1~0.5μm按照客戶要求定制

3）平晶的材料：標配特等光學K9材質，或根據客戶要求選購石英材質

檢驗標準 （GB/T903-2019 無色光學玻璃）

4） 平晶須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內進行等溫，等溫時間不少于8h。

標配：平晶1塊，合格證1張，鋁合金盒1個

選購：第三方計量檢定證書，平面光帶檢測儀。